A modular, adaptive electrical impedance tomography system
Ei tiedonkeruuseen
Luokittelutiedot
OKM-julkaisutyyppi
A4
Laji
Artikkelit ja abstraktit
Referoitu
Kyllä
Alalaji
Artikkelit ja abstraktit tieteellisissä konferenssijulkaisuissa
Tyyppi
Full Paper
Julkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Proceedings of 3rd World Congress on Industrial Process Tomography
Kustantaja
The Virtual Centre for Industrial Process Tomography
Kansainvälisyys
Kyllä
Julkaisun tarkemmat tiedot
Julkaisuvuosi
2003
Lehden/sarjan volyymi
-1
Sivunumerot
50-55
Julkaisukieli
englanti
Yhteisjulkaisutiedot
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Luokitukset ja lisätiedot
Lisätietoja
Banff, Canada 2.-5.9.2003,